- 适用于测试控制及设计等各类应用的数字I/O （DIO）

这些低成本设备是工厂自动化、嵌入式机械控制、及产品线验证等工业控制、制造测试系统的理想选择。此外，NI工业化数字I/O设备提供高可靠性的工业特色设置，专为要求最苛刻的自动化应用而设计。

隔离 降低了噪声，可提供更大的电压范围，避免硬件与工业传感器、促动器的直接连接。

可编程上电状态 可实现已知的初始化状态，使设备与泵、电机及其它工业激励器及机械连接时的操作更加安全。

数字化I/O看门狗 提供一种失效安全机制来监测计算机或应用的失效，确保系统处于可安全恢复的状态。

变化检测 在数字线状态发生改变时，将自动触发应用以执行读取操作，并使处理器使用率最小化。

可编程输入滤波器 能够消除输入中的锯齿边缘、噪音、短时脉冲干扰、尖脉冲，并为数字开关和继电器去除抖动。

工业认证 包括CE、FCC、C-TIck、UL及VDE，确保EMI符合世界绝大多数地区的标准，并保障系统在危险环境下运行安全。

工业化DIO是工业DAQ套件产品的一部分，包括工业NI M系列及S系列多功能设备。这些设备辅助NI可编程自动化控制器平台，提供与逻辑、运动、过程处理、及视觉应用无缝集成的工业化I/O。NI PAC结合了可编程逻辑控制器(PLC)的坚固性与PC的强大功能，具有开放灵活的软件构架。通过LabVIEW，具有工业化DAQ及数字I/O的PAC可与已有的PLC应用连接，从而可添加更多高级功能，提高应用效率。

图3. Innoventor公司的饮料包装系统

点击这里了解Innoventor公司如何集成工业数字I/O、运动及视觉应用，实现自动化饮料包装系统。

表2总结了NI提供的工业化数字I/O。

14. 应用于设计和原型建模的数字I/O

设计过程本质上是一个重复过程。各个应用领域的几乎所有设计都遵循定义、仿真、原型、测试的周期。在整个设计完善过程中，不断重复设计周期的各个阶段。如何设法缩短每阶段间的过渡时间是优化设计过程最重要的课题。LabVIEW的图形化系统设计通过单一平台实现所有设计周期，能够满足上述要求。此外，结合数字化NI R系列智能DAQ与LabVIEW FPGA模块，可在设计、原型建模及部署过程中提供最大的软硬件灵活性。

智能DAQ具有用户定义的板载FPGA处理，实现对系统定时及触发的完全控制。不具备VHDL经验的用户也能通过LabVIEW FPGA模块创建LabVIEW框图来配置FPGA芯片，从而完成对所有I/O的直接、快速控制。该过程提供高性能、用户可配置的定时与同步功能，并可实现高达40 MHz的板载决策。

举例来说，如果应用开发中需要使用不支持的或自定义的数字通信协议，用户可在基于FPGA的R系列智能DAQ硬件上通过LabVIEW FPGA模块快速实现通信接口或对其建模。

图4. 自定义数字协议与R系列智能DAQ和LabVIEW FPGA