为啥说超级电容将取代可充电电池？-电路图讲解-电子技术方案
超级电容以前主要用于大功率电源和大型工业与消费类电源设备，如今在各种尺寸的产品、特别是便携式设备中也找到了用武之地。超级电容以高达数千法拉的电容值和快速充放电速率而闻名于世。
由于能够长时间存储大量的电能，超级电容表现得更像是电池而不是一个标准电容。事实上，随着技术的进步，它们将替代众多产品中的可充电电池，从计算机、数码相机、手机到其它手持设备。
超级电容是什么？
简单地说，超级电容是一种非常大的极化电解质电容。这里的‘大’指的是容量，而不是它们的物理尺寸。 的确，对于普通的电解电容来说，电容值和/或电压值越大，整个封装也越大。电解电容通常提供微法拉数量级的电容值，从约0.1uF到约1F，其电压标称值最高可达1kVdc。一般来说，额定电压越高，电容值就越小，而电容值越大，封装也就越大，而且工作电压也可能会降低。 这些规则基本上也适用于超级电容。超级电容的容值在1F以上，工作电压范围从1.5V到160V甚至更高。随着电容值和电压增加，其体积也会增加。
电容值在数十法拉左右的早期超级电容是个大块头，主要用于大型电源设备。具有低电压工作能力的小体积超级电容则常用作消费电子设备中的短期备用电源。 尽管超级电容和电解电容存在很大的相似性，但在电气性能和物理尺寸方面也有很大的差异。例如，一个普通的10uF、25Vdc额定电压电解电容尺寸可能略小于甚至等同于1F到10F、2.7Vdc的超级电容。随着最近技术的进步，将超级电容的工作电压提高到25Vdc时，尺寸增加不到一倍，根据具体应用场合，这样的体积变化可能并不十分显著。
剖析超级电容
原则上讲，人们可以将超级电容看作是一个可充电电池。它能存储与其容量成正比的电荷，并在要求放电时释放电荷。超级电容与电解电容的最大区别是其电子双层架构，它能实现更高的容量。
标准电容的结构是在两个附属于金属板上的电极之间夹一层电介质层(图1)。根据电容类型不同，电介质可以是氧化铝、四氧化钽、氧化钛钡或聚丙烯聚酯，不同的材料决定了不同的容量和电压特性(图2)。电介质的多少和极板间的距离也会影响电容量。然而，极板间最大允许距离限制了电介质的数量。
在这种单层结构中，增加电介质数量来提高容量通常是可行的，方法有三种，即增加封装宽度和极板尺寸、增加封装长度和增加极板距离或这两种方法的组合。这三种方法都将导致电容器的体积变大，这是增加电容容量必须做出的一种牺牲。
双电层电容器(EDLC)正如它的字面意义那样可以解决上述问题，它在相同的封装内增加了第二个电介层，这个电介层与第一层在中间隔离物的两边并行工作(图3)。EDLC也采用无孔电介质，如活性碳、碳纳米管、炭黑凝胶，并选用导电聚合物，其存储容量要比标准的电解材料高出许多。额外层和更高效电介材料的这种组合能使电容容量提高近4个数量级。
不过，电压能力是超级电容的薄弱环节，根源在于电介质材料。EDLC中的电介质特别薄，只有纳米数量级，因此能产生很大的表面积，从而形成更大的容量。但这些很薄的层不具有传统电介质理想的绝缘特性，因此要求较低的工作电压。
超级电容应用
与标准电容和电池相比，EDLC的多个优点使得它们能成为理想的替代品。这些优点包括：与可重复充电电池相比充放电次数更多，实际效率高达98%，更低的内部电阻，大输出功率，更好的热性能，与电池和标准电容相比有更好的安全余量。 与所有类型的电池不同，EDLC没有特殊的处理要求，因此在整个生命周期内都具有环境友好特性。以前又大又笨重的超级电容现在已经有了各种尺寸的产品，可以适合任何应用以及几乎任何预算。
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1 引言
开关电源是各种系统的核心部分。开关电源的需求越来越大，同时对可靠性提出了越来越高的要求。涉及系统可靠性的因素很多。目前，人们认识上的主要误区是把可靠性完全（或基本上）归结于元器件的可靠性和制造装配的工艺,忽略了系统设计和环境温度对可靠性的决定性的作用。据美国海军电子实验室的统计，整机出现故障的原因和各自所占的百分比如表1所示。
在民用电子产品领域，日本的统计资料表明，可靠性问题80％源于设计方面（日本把元器件的选型、质量级别的确定、元器件的负荷率等部分也归入设计上的原因）。以上两方面的数据表明，设计及元器件（元器件的选型，质量级别的确定，元器件的负荷率）的原因造成的故障，在开关电源故障原因中占80％左右。减少这两方面造成的开关电源故障，具有重要的意义。
总之，对系统的设计者而言，需要明确建立“可靠性”这个重要概念，把系统的可靠性作为重要的技术指标，认真对待开关电源可靠性的设计工作，并采取足够的措施提高开关电源的可靠性，才能使系统和产品达到稳定、可靠的目标。本文就从这两个方面来研究与阐述。
2 系统可靠性的定义及指标
国际上，通用的可靠性定义为：在规定条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力。此定义适用于一个系统，也适用于一台设备或一个单元。描述这种随机事件的概率可用来作为表征开关电源可靠性的特征量和特征函数。从而，引出可靠度[R（t）]的定义：系统在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的概率。
如系统在开始 （t=0）时有n0个元件在工作，而在时间为t时仍有n个元件在正常工作，
则
可靠性 R(t)=n/n0 0≤R(t) ≤1
失效率 λ(t)= - dinR(t)/dt
λ定义为该种产品在单位时间内的故障数，即λ=dn/dt。
如失效率λ为常数，则
dn/dt=-λt
n=n0e-λt
R(t)=e-λt0
3 影响开关电源可靠性的因素
从各研究机构研究成果可以看出，环境温度和负荷率对可靠性影响很大，这两个方面对开关电源的影响很大，下面将从这两方面分析，如何设计出高可靠的开关电源。其中：PD为使用功率；PR为额定功率主。UD为使用电压；UR为额定电压。 3.1 环境温度对元器件的影响 3.1.1 环境温度对半导体IC的影响 硅三极管以PD/PR=0.5使用负荷设计，则环温度对可靠性的影响，如表2所示。
由表2可知，当环境温度Ta从20℃增加到80℃时，失效率增加了30倍。 3.1.2 环境温度对电容器的影响 以UD/UR=0.65使用负荷设计 则环境温度对可靠性的影响如表3所示。
从表3可知，当环境温度Ta从20℃增加到80℃时，失效率增加了14倍。 3.1.3 环境温度对电阻器的影响 以PD/PR=0.5使用负荷设计，则环境温度对可靠性的影响如表4所示。
从表4可知，当环境温度Ta从20℃增加到80℃时，失效率增加了4倍。 3.2 负荷率对元器件的影响 3.2.1 负荷率对半导体IC的影响，当环境温度为50℃时，PD/PR对失效率的影响如表5所示。
由表5可知，当PD/PR=0.8时，失效率比0.2时增加了1000倍。
3.2.2 负荷率对电阻的影响
负荷率对电阻的影响如表6所示。
从表6可以看出，当PD/PR=0.8时，失效率比PD/PR=0.2时增加了8倍。
4 可靠性设计的原则
我们可以从上面的分析中得出开关电源的可靠性设计原则。
4.1可靠性设计指标应包含定量的可靠性要求。
4.2可靠性设计与器件的功能设计相结合，在满足器件性能指标的基础上，尽量提高器件的可靠性水平。
4.3应针对器件的性能水平、可靠性水平、制造成本、研制周期等相应制约因素进行综合平衡设计。
4.4在可靠性设计中尽可能采用国、内外成熟的新技术、新结构、新工艺和新原理。
4.5对于关键性元器件，采用并联方式，保证此单元有足够的冗佘度。
4.6 原则上要尽一切可能减少元器件使用数目。
4.7在同等体积下尽量采用高额度的元器件。
4.8 选用高质量等级的元器件。
4.9 原则上不选用电解电容。
4.10 对电源进行合理的热设计，控制环境温度，不致温度过高，导致元器件失效率增加。
4.11 尽量选用硅半导体器件，少用或不用锗半导体器件。
4.12 应选择金属封装、陶瓷封装、玻璃封装的器件，禁止选用塑料封装的器件。
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